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03
2026
-
07
微透镜占空比、填充率与尺寸偏差,采用白光干涉仪实现一体化测量
微透镜阵列(Microlens Array, MLA)是精密光学、光电成像与光通信领域的核心元器件,其占空比(Duty Cycle of Microlens)、填...
微透镜占空比、填充率与尺寸偏差,采用白光干涉仪实现一体化测量
02
2026
-
07
MLCC 全流程生产制程质控(Production Proc...
多层陶瓷电容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC)端电极银浆厚度直接决定器件焊接可靠性、阻抗稳定性与服役寿命,是量产制程核心...
MLCC 全流程生产制程质控(Production Process Quality Control),依靠光学 3D 轮廓仪完成银浆厚度批量检测
02
2026
-
07
3D白光干涉仪替代激光共聚焦在半导体超精密形貌测量的应用(3...
半导体与精密制造领域中,工件直线度、微观形貌精准测量是品质管控核心环节。激光共聚焦显微镜(LCM)拼接检测普遍存在波纹抖动、形貌错位、数据失真等问题,无法满足IS...
3D白光干涉仪替代激光共聚焦在半导体超精密形貌测量的应用(3D White Light Interferometer Replace LCM for Semiconductor Ultra-Precision Morphology Measurement)
02
2026
-
07
微透镜阵列(Microlens Array)平整度(Flat...
微透镜阵列(Microlens Array, MLA)是光电成像、光场传感、精密光刻领域核心微纳光学元件,其基底平整度(Flatness)与单元高度一致性(Hei...
微透镜阵列(Microlens Array)平整度(Flatness)与高度一致性(Height Consistency),采用白光干涉仪进行全域测量
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